咨詢熱線
18923898569
18923898569
追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售后完整的服務體系
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價格實惠服務完善
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 探針臺系統(tǒng) > GP探針臺系列 > GP2000/GP2000-SEGP半自動探針臺
簡要描述：GP半自動探針臺，GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案?？蓱糜贗-V/C-V/P-IV測試、1/f噪聲測試、射頻/毫米波測試、功率測試、Load-Pull測試等。
產(chǎn)品型號：GP2000/GP2000-SE廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-07訪 問 量：7947產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
一、GP2000（SE)GP半自動探針臺的產(chǎn)品數(shù)據(jù)：
（1）機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量。
（2）提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
（3）一臺機器即可適配垂直探卡、裂片后的藍膜或多Site芯片測試。
（4）多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。
（5）可升級3000V大功率Chuck盤，實現(xiàn)功率器件測試
（6）可升級的-60℃~200°C高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更加穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
二、GP2000（SE）GP半自動探針臺的產(chǎn)品特點：
（1）高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng)，可直觀了解扎針情況，提高扎針 的準確性和效率。
（2）可升級的高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更 加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
（3）緊湊且可靠的機械設計 ，更適用于芯的測試及建模系統(tǒng)升級。
（4）能夠根據(jù)未來需求，可提供多種升級 模塊，輕松實現(xiàn)功能升級。
（5）短軸式拉桿設計，將更加符合新一 代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任 意位置可停留、極限位置能快速鎖 定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節(jié)省成本。
（6）可升級3000V大功率Chuck盤，實現(xiàn)功率器件測試。
（7）可升級的-60℃~200°C高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更加穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
三、公司介紹：
南京芯測軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟硬件的專業(yè)供應商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導體測試設備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務。
南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。產(chǎn)品包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業(yè)。
GP2000 （SE） 8英寸半自動
搭載射頻探針座實物照片
產(chǎn)品咨詢