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注重品質(zhì)細(xì)節(jié),對(duì)每一道生產(chǎn)工序負(fù)責(zé),對(duì)每一位用戶(hù)負(fù)責(zé)
  • 阻抗-MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽

    射頻探針,MT1000和MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽引系統(tǒng)是經(jīng)過(guò)商業(yè)驗(yàn)證的最佳解決方案,能夠在高達(dá)每分鐘1000阻抗/功率狀態(tài)的高速下執(zhí)行負(fù)載牽引,在以下條件下不限制史密斯圓圖覆蓋范圍:$n...

  • GP200-8英寸手動(dòng)探針臺(tái)

    GP200包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。

  • 8英寸高低溫探針臺(tái)

    GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠...

  • 硅光探針臺(tái)

    硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測(cè)試所需的完整配置,在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測(cè)試與提取。$nGP200擁有穩(wěn)定且可靠的測(cè)試平臺(tái),保證測(cè)試中的扎針質(zhì)量...

  • GP半自動(dòng)探針臺(tái)

    GP半自動(dòng)探針臺(tái),GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量,提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案??蓱?yīng)用于I-V/C-V/P-IV測(cè)試、1/f噪聲測(cè)試、射頻/毫米...

  • GP300探針臺(tái)

    大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測(cè)試更加簡(jiǎn)單,機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量,提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。

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南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司
南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司,專(zhuān)業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶(hù)提供半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試,器件測(cè)量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商,以滿(mǎn)足國(guó)內(nèi)用戶(hù)需求,開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。南京芯測(cè)的在專(zhuān)注于在片測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷(xiāo)與晶圓在片測(cè)試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括:手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷(xiāo)芯片ESD測(cè)試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測(cè)設(shè)備等...
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TLP傳輸線(xiàn)脈沖測(cè)試儀在半導(dǎo)體制造中的應(yīng)用

頭條TLP傳輸線(xiàn)脈沖測(cè)試儀在半導(dǎo)體制造中的應(yīng)用2025-1-16

在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,確保器件的可靠性和性能至關(guān)重要。TLP傳輸線(xiàn)脈沖測(cè)試儀憑借其優(yōu)勢(shì),成為半導(dǎo)體制造過(guò)程中的重要工具,在多個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)發(fā)揮著重要作用。在半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)階段,T...
  • 2025

    1-10

    射頻探針的工作原理及使用注意

    射頻探針在射頻測(cè)試領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,其工作原理和使用注意事項(xiàng)對(duì)于確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要。以下是對(duì)射頻探針...
  • 2024

    12-20

    提升芯片抗靜電性能的芯片ESD測(cè)試設(shè)備應(yīng)用

    隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,芯片在各類(lèi)設(shè)備中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。芯片的穩(wěn)定性和可靠性直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的性能,而靜電放電(...
  • 2024

    12-13

    ESD測(cè)試機(jī)的原理及應(yīng)用

    ESD測(cè)試機(jī),即靜電放電測(cè)試儀,是一種專(zhuān)門(mén)用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)性能的設(shè)備。以下是關(guān)于ES...
  • 2024

    11-25

    提升焊接效率:BGA植球機(jī)在電子組裝中的應(yīng)用

    在現(xiàn)代電子制造中,BGA(球形網(wǎng)格陣列)封裝已成為一種廣泛應(yīng)用的封裝技術(shù)。BGA芯片的焊接質(zhì)量直接關(guān)系到電子產(chǎn)品的性...
  • 2024

    11-14

    高低溫探針臺(tái)有哪些應(yīng)用?

    高低溫探針臺(tái)是一款為晶片、器件和材料(如薄膜、納米材料、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等)提供高低溫及特定環(huán)境...